滿足各種不同厚度樣品以及不規則表面樣品的測試需求 可以滿足微小測試點的需求，最小可達0.2mm

x射線熒光測厚儀 技術指標： ★ 型號：BOWMAN_BA 100

膜厚測量儀 膜厚測試儀 金屬鍍層測厚儀，指檢測金屬樣品上鍍層厚度的儀器。 膜厚儀采用二次熒光法,它的原理是物質經X射線或粒子射線照射后

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X射線熒光鍍層測厚儀

能量色散X射線熒光光譜儀EDX6600應用領域：合金分析，鍍層測量，貴金屬分析，RoHS，無鹵檢測，玩具安全，考古應用，環境保護等。ROHS指令，EN71玩具指令

X射野熒光標尺,射線檢測直讀尺

布魯克X射線熒光光譜儀榮獲Pittcon Today卓越銅獎

出具CNAS認可證書，符合ISO資質要求，符合客戶驗廠、審廠、證書資質等要求，權威高效，是儀器校驗、儀器校準、儀表校正等的專業第三方校準實驗室，國內各地區都可提供客戶現場校準服務。

● 緊湊式設計，改善效率和精度 ● 高分辨半導體固態探測器（Si-PIN），提高穩定性和靈敏度 ● 更短的預熱時間，更長壽命的光管 ● 多種規格一次濾波器和準直器 ● 可變焦距適應復雜樣品的測量需求

X-射線熒光鍍層分析測厚儀

CMI900 X射線熒光測厚儀

X-射線熒光分析測厚儀

供應日本精工X射線熒光射線測厚儀