Langer EMV-Technik MFA-K 0.1-12近場微探頭特點

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燈頭規格：E27 螺口 接線方式：火線、零線 注意事項：本產品不適用于噪音過大的

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直探頭進行垂直探傷用的單晶片探頭，主要用于縱波探傷。直探頭由插座、外殼、保護膜、壓電晶片、吸聲材料等組成

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產品名稱： 差分探頭 產品貨號： wi123467 產 地： 臺灣品致

特斯拉計/高斯計縱向探頭，縱向探頭在使用的時候切不可受力、撞擊或受擠壓，以免損壞傳感器。傳感器頭部的凹陷圓點標示為傳感器的有效位置即為測量面。儀器所顯示的數值為測量面所指示點的磁感應強度。

隨時歸零!不用考慮位置誤差！

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HP-501型四探針探頭是一種專門測量半導體薄層電阻(面電阻)的方塊電阻測試儀配用的四探針測試探頭，可用于測量一般半導體材料、導電薄膜(ITO透明氧化膜)，金屬薄膜……等同類物質的薄層電阻。