①　-- 可測試高溫的PCB銅箔 ②　-- 顯示單位可為mils，μm或oz ③　-- 可用于銅箔的來料檢驗 ④　-- 可用于蝕刻或整平后的銅厚定量測試 ⑤　-- 可用于電鍍銅后的面銅厚度測試

CMI165(帶溫度補償功能的面銅測厚儀)

我司2007年成立于深圳市，長期專注于CMI鍍層測厚儀的銷售和售后服務，一直關注鍍層測厚儀的發展，擁有多名專業的銷售工程師和售后服務工程師。我司有信心有能力為客戶提供最佳的鍍層測厚檢測方案。

CMI165面銅測厚儀

CMI165面銅測厚儀

手持式測厚儀配有探針防護罩，確保探針的耐用性，即使在惡劣的使用條件下也可以照常進行檢測。