該儀器按照單晶硅物理測(cè)試方法國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)并參考美國(guó) A.S.T.M 標(biāo)準(zhǔn)而設(shè)計(jì)的，專用于測(cè)試半導(dǎo)體材料電阻率及方塊電阻(薄層電阻)的專用儀器。

HT-300D方塊電阻測(cè)試儀輸出采用高精度芯片控制，恒流輸出，結(jié)構(gòu)合理、質(zhì)量輕便，運(yùn)輸安全、使用方便；選配：配備軟件可以由電腦操控，并保存和打印數(shù)據(jù)，自動(dòng)生成報(bào)表

機(jī)采用世界領(lǐng)先的先進(jìn)電路設(shè)計(jì)，所測(cè)數(shù)值更精、更快、更準(zhǔn) 2．屏幕采用液晶顯示 3．匹配電腦接口及軟件，讓操作簡(jiǎn)便明了化

便攜式四探針電阻率測(cè)試儀表 薄膜 ITO膜方塊電阻測(cè)試儀 wi126413

雙面膠膠帶兩用型剝離力測(cè)試儀

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