美國Foresite C3/CI表面離子濃度判定儀是美國Foresite實(shí)驗(yàn)室研發(fā)的一款測(cè)試和判定PCB、PCBA等半成品電子產(chǎn)品和IC、BGA等元器件的單點(diǎn)或局部離子污染度
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C3電路板表面清潔度測(cè)試儀。操作界面簡捷、節(jié)省時(shí)間、使用方法易于掌握。C3的出現(xiàn)使電路板局部清潔度的判定更為方便、快捷,降低了使用者的時(shí)間成本,提高了檢測(cè)效率.
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