半導體高頻針 > 大直徑針(ø≥0.45mm)小直徑針(ø≤0.38mm)
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半導體膜厚測試儀測量模式用于: 1.單、雙及三層鍍層系統(tǒng)。 2.雙元及三元合金鍍層的分析和厚度測量。
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粉末電阻率測試儀 本儀器采用四探針測量法適用于碳素廠、焦化廠、石化廠、粉末冶金廠、高等院校、科研部門,是檢驗和分析粉末樣品質(zhì)量的一種重要的工具。液晶顯示電阻率、方阻、電導率等相關數(shù)據(jù).
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